硬盘的数据存储密度很大，在生产过程中不可避免地会产生缺陷扇区，同时在使用过 程中，那些不稳定的扇区也会逐渐老化而产生数据读写错误，成为缺陷扇区。这些缺陷和 不稳定扇区会严重威胁硬盘数据的安全，为此，硬盘设计了两个缺陷列表P表（P-Iist)和 G表（G-list)来处理这些有缺陷的扇区• P表和G表用于记录硬盘的缺陷扇区的情况，使 硬盘在工作时不会在缺陷扇区中读写数据，防止败据损坏。
1. P表
P表又称为永久缺陷列表，用于记录硬盘生产过程中产生的缺陷。厂家使用专门的测 试设备发现的缺陷是磁介质寿命完成之后产生的永久缺陷，只能使用特别的设备来增加记 录，一般没有必要去修改。
加入P表不会影响硬盘的读写性能，这要从硬盘的廟区结构进行分析•硬盘的全部扇 区可以划分为固件区、工作区和保留扇区，其中固件区和保留扇区普通用户无法直接进行 操作。其实硬盘的实际扇区败比硬盘标签上标定的要大，其中一部分用于存储硬盘的固件S 一部分是用户存储数据的区域，即工作区，也就是硬盘标定容童的扇区：剩下的就是保留 区•实际上硬盘上并不会物理划出一个保留区域，只是在工厂生产时标定了全部的有效扇 区，而硬盘的容量是小于其实际扇区总数的，在固件里定义了硬盘的容1:后，超过硬盘容 量的那些扇区就被称为保留扇区，如图3-1所示。
缺陷扇区被加入P表后，硬盘不会再读写该扇区，而是将原读写该扇区的操作顺延到 读写坏扇区的下一个扇区，该扇区以后的所有扇区的LBA值都发生了改变，原来保留扇区 的一个扇区成为了硬盘的LBAmax,如图3-2所示•所以坏道被加入P表后，硬盘需要进 行一次厂家低格。
图3<1硬盘鹰区结构
3-2加入P表后的磨区结构
以迈拓硬盘为例，其中一共有4个模块与P表相关，分别是24、55、120以及51号 棋块。其中24、55、120是一组棋块，它们是硬盘的缺陷记录，记录搡作系统可以识别的 逻辑扇区缺陷，是一种译码表。而51号模块记录的則是研究人员可以识别的扇区缺陷物理 地址，是厂家在硬盘出厂时设置的一个P表记录，采用的是表格形式，计算机无法识别， 专门供研究人员分析使用。只要51号棋块没有损坏，对硬盘做数据恢复，就有很高的成 功率。
效率源迈拓专修程序中的“P表导入”功能的工作原理，就是根据51号棋块记录的出 厂硬盘缺陷记录来重建24、55、120这三个模块，所以即使这三个模块损坏，导致硬盘不 能被识别以及数据丢失，只要51号模块没有损坏•我们仍可以恢复损坏的数据。而51号 棋块本身只是一个记录表，它的损坏并不会对数据本身造成任何影响。
